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タイトル :真実接触面積の測定
別言語のタイトル :Measurement of Real Contact Area
著者 :新田, 勇
公開者・出版者 :日本実験力学会
刊行年月 :2003-12
掲載誌名 :実験力学
巻 :3
号 :4
開始ページ :285
終了ページ :288
ISSN :1346-4930
抄録 :Two different methods of measuring real contact area have been described. One was the contact microscope that was modified by elliptically polarized light and coud detect 20nm distance. The other was the thin polymer film method developed by the author. In the thin polymer method, the real contact area could be measured over the quit wide range of the nominal contact area. The effect of the surface roughness of the specimens on the thin polymer method was showed.
キーワード :Real Contact area
Contact Microscope
Thin Polymer Film Method
Tribology
Contact Mechanics
資料種別 :学術雑誌論文
言語 :jpn
フォーマット :application/pdf
URI :http://hdl.handle.net/10191/24344
fullTextURL :http://dspace.lib.niigata-u.ac.jp/dspace/bitstream/10191/24344/1/3_4_285-288.pdf
権利 :Copyright (C) 2003 JSEM
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